智能電源測試老化房適用於(yu) 計算機、終端機、電源供應器、電子交換機、等電子組件壽命測試。為(wei) 早期發現不良品之移處,提高產(chan) 品的可靠性、為(wei) 控製成本和保護產(chan) 品之有效手段。特點:內(nei) 容積可任意放大縮小,隨使用者環境需求而設計。
更新時間:2021-04-01
品牌 | 尚測/suncek |
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智能電源測試老化房適用於(yu) 計算機、終端機、電源供應器、電子交換機、等電子組件壽命測試。為(wei) 早期發現不良品之移處,提高產(chan) 品的可靠性、為(wei) 控製成本和保護產(chan) 品之有效手段。特點:內(nei) 容積可任意放大縮小,隨使用者環境需求而設計。
一、智能電源測試老化房技術參數:
注:在環境溫度+25攝氏度時,空載條件下以內(nei) 箱離各扁1/6距離有效空間測得的數據。
二、智能電源測試老化房結構
三、智能電源測試老化房安裝條件